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[芯片硬件] 基于STM32片内信号的ADC应用演示

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发表于 27-4-2024 09:53:33 | 显示全部楼层 |阅读模式

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基于STM32片内信号的ADC应用演示w1.jpg

很多STM32芯片里往往内置了专用的ADC通道,比方用来测量Vrefint,VBAT的分压或温度传感器的输出电压信号。不同系列所内置的模拟信号通道可能有差异。这里以STM32G4系列为例,它内置了对应于Vrefint,VBAT的三分之一分压和温度传感器的输出电压的专用模拟通道。

基于STM32片内信号的ADC应用演示w2.jpg

基于STM32片内信号的ADC应用演示w3.jpg

下面的示例就是针对上述3个通道进行ADC,并测量相关电压和片内温度,最终得到3个结果,分别是VRefint电压,VBAT的电压,片内温度。

基于STM32片内信号的ADC应用演示w4.jpg

实现过程是这样的,大体分四步:【有点点麻雀虽小五脏俱全的味道
基于STM32片内信号的ADC应用演示w5.png


1、TIMER1 更新事件触发ADC的转换;

2、CPU基于EOC中断获取ADC结果;

3、对ADC结果进行换算,得到电压值和温度值存放在特定内存位置;

4、基于DMA传输通过UART将最终结果在串口终端显示;

其中,TIMER1的CH1输出PWM波形,其更新事件做ADC的转换启动信号。每次的TIMER更新事件触发ADC,3个通道扫描方式转换。这里的UART使用片内LPUART,使用它主要是考虑它跟板载虚拟串口直接相连,没有其它特别用意。

基于STM32片内信号的ADC应用演示w6.jpg

我使用STM32G474Nucleo板来进行下面实验。其中VDD=3.3v,VBAT与VDD相连。另外,ADC模块的参考电压也是3.3v.

使用CubeMx图形化工具进行配置,先看TIMER配置:

基于STM32片内信号的ADC应用演示w7.jpg

再看看ADC的基本配置:

基于STM32片内信号的ADC应用演示w8.jpg

LPUART的基本配置:

基于STM32片内信号的ADC应用演示w9.jpg

因为要使用ADC中断和UART的DMA传输,记得做ADC的中断响应使能配置和LPUART的DMA配置,这里只使用UART的TX DMA功能。

基于STM32片内信号的ADC应用演示w10.jpg

使用CubeMx主要配置主要是上面这些。

在组织用户代码前,先简单介绍下片内温度传感器的内容。该温度传感器针对不同温度有不同电压输出,其输出电压跟温度呈线性关系。ST公司针对片内温度传感器在两个特定温度【30℃和110℃或30℃和130℃】、基于特定参考电压【3v或3.3v,不同系列以数据手册为准】生成了1组校准值并存放于片内特定FLASH位置。

STM32G4系列的校准值是在参考电压为3v,30℃和110℃条件下的两个值,在数据手册里还给出了校准值的片内存放地址。

基于STM32片内信号的ADC应用演示w11.jpg

针对这个温度传感器的使用,ST公司在参考手册里还给出了计算公式。其实,有无这个公式无所谓,我们不难自行推理出来。【TS_DATA代表某时刻测得的传感器输出电压对应的转换值,TS_CAL1/TS_CAL2分别表示在30℃和110℃条件下基于传感器输出电压的转换值。】

基于STM32片内信号的ADC应用演示w12.jpg

另外,前面提过,ST公司在手册里给出了温度传感器的两个温度下的校准值,但要注意生成校准值的ADC模块所用参考电压跟我们实际应用时AD模块所用的参考基准电压可能不一致。如果不一致,就必须将ADC值换算成同一基准参考电压条件下的数据。目前在ST手册里也特别强调这点了。我把上面一副图再贴一遍于此【见黄色语句提醒】。



关于这点,我们也不难理解。同一待测信号、同一ADC模块在不同基准参考电压下转换值往往是不一样的。见下面示意图加以理解。

基于STM32片内信号的ADC应用演示w14.jpg

完成各项配置后,创建软件工程。添加必需的用户代码:
#define TX_Timeout (9999)
#define TS_CAL1_ADDR  (0x1FFF75A8)  //用于计算温度传感器数据#define TS_CAL2_ADDR  (0x1FFF75CA) //用于计算温度传感器数据
#define size1 (40)
char WDVol[size1],BatVol[size1],InVol[size1];
uint16_t ts_c30,ts_c110;
uint16_t ADCResult[3],convCNT;
volatile  uint32_t Completed,EndofCon_Flag;
float    VBATVolt;//存放BBAT电压最终结果float    VRefint;  //存放Vrefint电压最终结果float    Temperature;//存放片内温度℃最终结果
int main(void){/* USER CODE BEGIN 1 */
/* USER CODE END 1 */
/* MCU Configuration--------------------------------------------------------*/
/* Reset of all peripherals, Initializes the Flash interface and the Systick. */  HAL_Init();
/* USER CODE BEGIN Init */
/* USER CODE END Init */
/* Configure the system clock */  SystemClock_Config();
/* USER CODE BEGIN SysInit */
/* USER CODE END SysInit */
/* Initialize all configured peripherals */  MX_GPIO_Init();  MX_DMA_Init();  MX_ADC1_Init();  MX_LPUART1_UART_Init();  MX_TIM1_Init();/* USER CODE BEGIN 2 */
   ts_c30 = *(uint16_t *)(TS_CAL1_ADDR); //读取30℃时的ADC校准值
   ts_c110 =  *(uint16_t *)(TS_CAL2_ADDR);//读取110℃时的ADC校准值
  HAL_ADCEx_Calibration_Start(&hadc1 , ADC_SINGLE_ENDED);//ADC校准
  HAL_ADC_Start_IT(&hadc1);//启动ADC并开启转换中断
  HAL_TIM_PWM_Start(&htim1,  TIM_CHANNEL_1);

/* USER CODE END 2 */
/* Infinite loop *//* USER CODE BEGIN WHILE */while (1)  {/* USER CODE END WHILE */
/* USER CODE BEGIN 3 */
if (EndofCon_Flag!=0)  {    VBATVolt=(ADCResult[0]/4095.)* 3.3 * 3.;  
    VRefint=(ADCResult[1]/4095.) * 3.3;  
    Temperature = 30.+ (88.*(ADCResult[2]-((ts_c30/1.1))))/(ts_c110 - ts_c30);
      EndofCon_Flag=0;
//HAL_UART_Transmit(&hlpuart1, (uint8_t *)WDVol ,sizeof(WDVol), TX_Timeout);
      HAL_GPIO_WritePin( GPIOC,GPIO_PIN_3,GPIO_PIN_RESET);  //for auxiliary test
      HAL_UART_Transmit_DMA(&hlpuart1, (uint8_t *)WDVol ,sizeof(WDVol));
while(Completed==0){}      Completed =0;   
//HAL_UART_Transmit(&hlpuart1, (uint8_t *)InVol ,sizeof(InVol), TX_Timeout);      HAL_UART_Transmit_DMA(&hlpuart1, (uint8_t *)InVol ,sizeof(InVol));
while(Completed==0)  {}      Completed =0;

//HAL_UART_Transmit(&hlpuart1, (uint8_t *)BatVol ,sizeof(BatVol), TX_Timeout);      HAL_UART_Transmit_DMA(&hlpuart1, (uint8_t *)BatVol ,sizeof(BatVol));        while(Completed==0){}      Completed =0;
      HAL_GPIO_WritePin( GPIOC,GPIO_PIN_3,GPIO_PIN_SET);  //for auxiliary test
   }   
  }/* USER CODE END 3 */}
//ADC EOC 中断回调处理函数void HAL_ADC_ConvCpltCallback(ADC_HandleTypeDef *hadc){
  ADCResult[convCNT]=HAL_ADC_GetValue(&hadc1); //获取转换结果并存入数组
  convCNT++;
if(convCNT==3)  
{    convCNT=0;
    EndofCon_Flag=0xff;
sprintf(WDVol,"Internal PN Temperature: %5.3f  \r\n",Temperature);  
sprintf(InVol,"Internal Reference Volt: %5.3f  \r\n",VRefint);  
sprintf(BatVol,"Current Battery Volt:   %5.3f  \r\n\r\n",VBATVolt);
}
}
//UART DMA 传输完成中断回调函数
void HAL_UART_TxCpltCallback(UART_HandleTypeDef *huart){
  Completed=0xff;}
基于上面的配置和测试代码,我们就可以看到最终的结果了。定时器周期性地触发ADC,每得到3个ADC结果就进行数据处理,然后通过UART以DMA方式传输到串口终端。注意VBat电压是测量结果再乘以3得到的。

基于STM32片内信号的ADC应用演示w15.jpg

基于STM32片内信号的ADC应用演示w16.jpg

针对上面的应用演示,最后给几点相关应用提醒:

1、针对温度传感器做测量时,校准时使用的参考电压与实际应用不一致时要做换算,换算成相同参考电压的数据后再做计算。这点前面也提过了。

2、使用TIMER的TRGO触发ADC,如果选择类似比较事件、更新事件来触发ADC时,此时ADC对触发极性的选择是无效的,或者说ADC的转换仅依赖于触发事件时间点。如果是选择TIMER的Ocref信号作为触发源,此时ADC的硬件触发的极性选择是有效的,可以是上沿或下沿触发,甚至是双沿触发。这时就得根据需要选择合适的触发沿。【可以进一步阅读本公众号文章《STM32定时器触发ADC的时序话题》】

3、这里使用UART的DMA传输依次显示三个结果于串口终端,三个启动UART DMA传输的函数须保留适当时间间隔,即等上次传输完成后再启动下一次传输,因为这里每次传输使用的是同一DMA通道。否则没法全部正常输出。比如若把上面3次UART DMA传输的代码改成下面这样子:

HAL_UART_Transmit_DMA(&hlpuart1, (uint8_t *)WDVol ,sizeof(WDVol));      HAL_UART_Transmit_DMA(&hlpuart1, (uint8_t *)InVol ,sizeof(InVol));
  HAL_UART_Transmit_DMA(&hlpuart1, (uint8_t *)BatVol ,sizeof(BatVol))
这时输出结果会变成下面的情形,总是只能看到一个结果的输出,即第一次启动的DMA传输结果。

基于STM32片内信号的ADC应用演示w17.jpg

如果想省事点,直接在相邻2次DMA传输间加上合适延时也行。我这里根据DMA传输完成事件来决定执行下一次发送。在DMA传输完成中断里设置Completed变量为非0值表示当前一轮DMA传输完成。

4、对于那些在中断和主程序里都会被访问的变量,记得将它们冠以volatile。

下图的三路波形是我调试时辅助使用的。

第一路表示计数器的计数变化,显然是单向向上计数模式。

第二路是TIMER1通道1的PWM输出波形。

第三路是我每次基于DMA实现UART发送时拉高拉低的波形。平常管脚电平为高,在实现DMA传输过程中拉低。

基于STM32片内信号的ADC应用演示w18.jpg

好,今天的分享就到这里,供君参考。下次再聊。




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