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[车身电子] 跟踪测试车门主控开关由于脉冲击穿导致芯片烧蚀的原因

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该用户从未签到

发表于 13-11-2015 17:58:21 | 显示全部楼层 |阅读模式

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跟踪测试车门主控开关由于脉冲击穿导致芯片烧蚀的原因
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  • TA的每日心情
    开心
    3-11-2015 21:09
  • 签到天数: 26 天

    [LV.4]偶尔看看III

    发表于 21-11-2015 17:02:31 | 显示全部楼层
    我对于原因很好奇,但板子设计就没有考虑过滤?
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  • TA的每日心情
    难过
    30-11-2015 15:40
  • 签到天数: 1 天

    [LV.1]初来乍到

    发表于 30-11-2015 15:48:16 | 显示全部楼层
    建议1 检查输入信号是否波动加大?
    2 器件或是板子的可靠性方面是否验证?比如耐压,过压测试
    3 建议选用大厂的
    提供可靠性测试及失效分析服务,13373630731,连先生
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