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关于频度和探测度的问题,请高手指教

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发表于 22-6-2008 22:43:36 | 显示全部楼层 |阅读模式

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关于频度和探测度的问题,请高手指教
关于发生度和可探测度的问题,请大家指教
我的问题是:

1.  对于“发生度”(也就是频度)的定义有些疑惑:手册中的定义是“频度是指某一特定的起因/机理发生的可能性”。问题一是:频度是否需要考虑失效的结果还是只考虑原因和机理发生的频次;问题二是:这个可能性是基于什么去做统计?(是产品不良率吗,多数资料都将发生度与CPK联系,那么就说明一般都是基于成品的失效率即不良率来统计的)举个例子来说:某种原因如果发生,可能会导致批量产品全部失效;也有原因发生时,可能只会导致部分产品失效;如何表现出它们的不同。


2. 控制方法有两种,一是控制原因即预防失效发生,一是检验出失效即防止流入到客户手中。针对可探测度,如果是检验我们比较容易理解:根据检验采取的方法就可以定义可探测度;但如果控制方法是控制原因,那么怎么去定义可探测度了;或者是既有针对原因的控制方法又有检验失效模式的检验方法,那么怎么去定义可探测度。


该用户从未签到

发表于 22-6-2008 22:43:51 | 显示全部楼层
失效模式和后果分析分两类,一类是针对产品设计用的设计失效和后果分析DFMEA,还有一类是针对过程设计用的过程失效和后果分析PFMEA。您提出的问题是针对哪一类的?好像不太清楚。也就不好讨论了。最好举例来提问,好讨论。活到老学到老


该用户从未签到

发表于 22-6-2008 22:43:53 | 显示全部楼层
我的问题是针对过程的,PFEMA.

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